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TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統

TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統

簡要描述:

英國TASL TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統由愛儀器儀表網代理,本產品是基于核徑跡分析技術發展的高性能全自動圖像測量及分析系統,用于測量及分析各類塑料徑跡探測器。現在熱賣中!

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TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統簡介:
TASLimage是基于核徑跡分析技術發展的高性能全自動圖像測量及分析系統,用于測量及分析各類塑料徑跡探測器,例如 TASTRAK(TASL 公司生產)、CR39、PN3。
TASLimage系統的顯微鏡模塊采用了高質量 Nikon 光學器件和超快 3D 機動控制系統,保證了系統的高測量效率、高精度及低本底等優異性能。
TASLimage適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α 粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。
TASTRAK核徑跡探測器
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統特點:
全自動聚焦,全自動掃描點碼和蝕刻徑跡;
全自動測讀批量探測器;
快速測讀,測讀時間為 30~60 秒(與參數設置相關);
自動修正探測器響應衰退,保證探測器可用于 12 個月的長期監測;
高度精密的圖像分析技術,可區分徑跡與本底特征;
全自動本底評估(對每個探測器);
掃描數據自動轉換為中子劑量 / 氡濃度;
數據可導出 excel 文件。

TASLimage軟件界面
TASLimage軟件界面

TASTRAK核徑跡探測器
TASTRAK核徑跡探測器

TASLimage徑跡蝕刻測量系統技術參數:

探測器類型PADC(聚丙烯二甘醇碳酸酯)
兼容品牌TASTRAK,CR39,PN3 等,不限尺寸
TASTRAK 規格常規:0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm,
可定制:0.1~0.5mm,> 1.5mm
本底徑跡< 20tracks/cm2
蝕刻數量150 個或 294 個,不銹鋼蝕刻架
蝕刻條件 (TASTRAK)氡:98℃ , 約 1 小時;或 75℃ , 約 6 小時;
中子: 85℃ , 約 3 小時
識別徑跡密度≥ 140tracks/mm2
探測限氡:5Bq/m3 ~15MBq/m3
中子:下限< 0.25mSv
線性中子:優于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv;
氡: 3%-6%(200-5000 Bq/m3 )


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